APA-Zitierstil (7. Ausg.)

(2009). Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies. Wiley [u.a.].

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies. Hoboken, NJ: Wiley [u.a.], 2009.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies. Wiley [u.a.], 2009.

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