Optisches Messen technischer Oberflächen: Messprinzipien und Begriffe
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Rahlves, Maik 1978- (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin ; Wien ; Zürich Beuth 2009
Ausgabe:1. Auflage
Schriftenreihe:Beuth-Pocket : Messwesen : DIN
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:79 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783410171331
3410171339
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THWS Schweinfurt Zentralbibliothek Lesesaal

Bestandesangaben von THWS Schweinfurt Zentralbibliothek Lesesaal
Signatur: 2000 ZQ 3910 R147
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