Structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint IAPR international workshops SSPR 2002 and SPR 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6 - 9, 2002 ; proceedings
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin ; Heidelberg ; New York ; Barcelona ; Hong Kong ; London Springer 2002
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 2396
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-91
DE-384
DE-19
DE-706
DE-739
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XVI, 863 S. Ill., graph. Darst.)
ISBN:3540440119
3540706593
DOI:10.1007/3-540-70659-3

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