Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen: Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin Projektträger Mikrosystemtechnik 2006
Ausgabe:Stand Mai 2006
Schriftenreihe:Innovation
Schlagworte:
Beschreibung:49 S. Ill., graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM (12 cm)
ISBN:9783897501447
3897501449

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