Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen: Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband
Gespeichert in:
Format: | Buch |
---|---|
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Berlin
Projektträger Mikrosystemtechnik
2006
|
Ausgabe: | Stand Mai 2006 |
Schriftenreihe: | Innovation
|
Schlagworte: | |
Beschreibung: | 49 S. Ill., graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM (12 cm) |
ISBN: | 9783897501447 3897501449 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV035140533 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20081106 | ||
007 | t | ||
008 | 081104s2006 gw ad|| |||| 10||| ger d | ||
015 | |a 06,N51,1387 |2 dnb | ||
015 | |a 07,B10,0795 |2 dnb | ||
016 | 7 | |a 982030967 |2 DE-101 | |
020 | |a 9783897501447 |c geh. : EUR 29.00 |9 978-3-89750-144-7 | ||
020 | |a 3897501449 |c geh. : EUR 29.00 |9 3-89750-144-9 | ||
024 | 3 | |a 9783897501447 | |
035 | |a (OCoLC)180973244 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV035140533 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c XA-DE-BE | ||
049 | |a DE-29T | ||
082 | 0 | |a 621.0287 |2 22/ger | |
084 | |a 620 |2 sdnb | ||
245 | 1 | 0 | |a Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen |b Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband |c [Hrsg. VDI-VDE Innovation + Technik GmbH, Projektträger Mikrosystemtechnik im Auftr. des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)] |
250 | |a Stand Mai 2006 | ||
264 | 1 | |a Berlin |b Projektträger Mikrosystemtechnik |c 2006 | |
300 | |a 49 S. |b Ill., graph. Darst. |c 30 cm |e 1 CD-ROM (12 cm) | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 0 | |a Innovation | |
650 | 0 | 7 | |a Messtechnik |0 (DE-588)4114575-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Mikrosystemtechnik |0 (DE-588)4221617-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |y 2006 |z Nürnberg |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Mikrosystemtechnik |0 (DE-588)4221617-5 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Messtechnik |0 (DE-588)4114575-6 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Mikrosystemtechnik |0 (DE-588)4221617-5 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Prüftechnik |0 (DE-588)4047610-8 |D s |
689 | 1 | |5 DE-604 | |
710 | 2 | |a Projektträger Mikrosystemtechnik |e Sonstige |0 (DE-588)10159698-4 |4 oth | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-016807921 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804138124575506432 |
---|---|
adam_txt | |
any_adam_object | |
any_adam_object_boolean | |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV035140533 |
ctrlnum | (OCoLC)180973244 (DE-599)BVBBV035140533 |
dewey-full | 621.0287 |
dewey-hundreds | 600 - Technology (Applied sciences) |
dewey-ones | 621 - Applied physics |
dewey-raw | 621.0287 |
dewey-search | 621.0287 |
dewey-sort | 3621.0287 |
dewey-tens | 620 - Engineering and allied operations |
discipline | Maschinenbau / Maschinenwesen |
discipline_str_mv | Maschinenbau / Maschinenwesen |
edition | Stand Mai 2006 |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01899nam a2200493 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV035140533</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20081106 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">081104s2006 gw ad|| |||| 10||| ger d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">06,N51,1387</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">07,B10,0795</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">982030967</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783897501447</subfield><subfield code="c">geh. : EUR 29.00</subfield><subfield code="9">978-3-89750-144-7</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3897501449</subfield><subfield code="c">geh. : EUR 29.00</subfield><subfield code="9">3-89750-144-9</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="3" ind2=" "><subfield code="a">9783897501447</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)180973244</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV035140533</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">XA-DE-BE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">621.0287</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">620</subfield><subfield code="2">sdnb</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen</subfield><subfield code="b">Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband</subfield><subfield code="c">[Hrsg. VDI-VDE Innovation + Technik GmbH, Projektträger Mikrosystemtechnik im Auftr. des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)]</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Stand Mai 2006</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">Projektträger Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="c">2006</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">49 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield><subfield code="c">30 cm</subfield><subfield code="e">1 CD-ROM (12 cm)</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Innovation</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Messtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4114575-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="y">2006</subfield><subfield code="z">Nürnberg</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Messtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4114575-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4221617-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Projektträger Mikrosystemtechnik</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)10159698-4</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-016807921</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 2006 Nürnberg gnd-content |
genre_facet | Konferenzschrift 2006 Nürnberg |
id | DE-604.BV035140533 |
illustrated | Illustrated |
index_date | 2024-07-02T22:26:59Z |
indexdate | 2024-07-09T21:23:12Z |
institution | BVB |
institution_GND | (DE-588)10159698-4 |
isbn | 9783897501447 3897501449 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-016807921 |
oclc_num | 180973244 |
open_access_boolean | |
owner | DE-29T |
owner_facet | DE-29T |
physical | 49 S. Ill., graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM (12 cm) |
publishDate | 2006 |
publishDateSearch | 2006 |
publishDateSort | 2006 |
publisher | Projektträger Mikrosystemtechnik |
record_format | marc |
series2 | Innovation |
spelling | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband [Hrsg. VDI-VDE Innovation + Technik GmbH, Projektträger Mikrosystemtechnik im Auftr. des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)] Stand Mai 2006 Berlin Projektträger Mikrosystemtechnik 2006 49 S. Ill., graph. Darst. 30 cm 1 CD-ROM (12 cm) txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Innovation Messtechnik (DE-588)4114575-6 gnd rswk-swf Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd rswk-swf Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 2006 Nürnberg gnd-content Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 s Messtechnik (DE-588)4114575-6 s DE-604 Prüftechnik (DE-588)4047610-8 s Projektträger Mikrosystemtechnik Sonstige (DE-588)10159698-4 oth |
spellingShingle | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband Messtechnik (DE-588)4114575-6 gnd Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd |
subject_GND | (DE-588)4114575-6 (DE-588)4047610-8 (DE-588)4221617-5 (DE-588)1071861417 |
title | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband |
title_auth | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband |
title_exact_search | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband |
title_exact_search_txtP | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband |
title_full | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband [Hrsg. VDI-VDE Innovation + Technik GmbH, Projektträger Mikrosystemtechnik im Auftr. des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)] |
title_fullStr | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband [Hrsg. VDI-VDE Innovation + Technik GmbH, Projektträger Mikrosystemtechnik im Auftr. des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)] |
title_full_unstemmed | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband [Hrsg. VDI-VDE Innovation + Technik GmbH, Projektträger Mikrosystemtechnik im Auftr. des Bundesministeriums für Bildung und Forschung (BMBF)] |
title_short | Mess- und Prüftechnik für den Test von Mikrosystemen |
title_sort | mess und pruftechnik fur den test von mikrosystemen cluster meeting 31 05 und 01 06 2006 nurnberg tagungsband |
title_sub | Cluster-Meeting 31.05. und 01.06.2006 - Nürnberg ; Tagungsband |
topic | Messtechnik (DE-588)4114575-6 gnd Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Mikrosystemtechnik (DE-588)4221617-5 gnd |
topic_facet | Messtechnik Prüftechnik Mikrosystemtechnik Konferenzschrift 2006 Nürnberg |
work_keys_str_mv | AT projekttragermikrosystemtechnik messundpruftechnikfurdentestvonmikrosystemenclustermeeting3105und01062006nurnbergtagungsband |