Untersuchungen über Strahlenschädigung von Halbleiterbauelementen sowie über die Verbesserung der Strahlenresistenz von Planartransistoren durch Bestrahlungs-Ausheil-Zyklen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Bäuerlein, Rudolf (MitwirkendeR)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: München ZLDI 1970
Schriftenreihe:Forschungsbericht BMwF-FB-W 70
Schlagworte:
Beschreibung:180 S. 67 Abb., 9 Tab.

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