New methods in the analysis of electron density and electron localizability - applications to X-O-X systems (X = C, Si):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Grabowsky, Simon (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 2009 [erschienen] 2010
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 399 S. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!