Hochenergie-Photoelektronenspektroskopie und winkelabhängige Röntgenemissionsspektroskopie zur tiefenabhängigen Untersuchung von polykristallinen Cu(In,Ga)Se 2 -Schichten:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Mönig, Harry 1971- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:German
Veröffentlicht: 2009
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Nebentitel: Hard X-ray photoelectron spectroscopy and angle dependent soft X-ray emission spectroscopy for depth dependent elemental analysis of polycrystalline Cu(In,Ga)Se2 thin films
Beschreibung:1 Online-Ressource (171 S.) graph. Darst.

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