Vergleichende Untersuchungen der Kristallperfektion dünner heteroepitaktischer Wolfram-Einkristallschichten mit unterschiedlichem Mosaik-Spread mittels MeV- H+- und He+-Rutherford-Ionenrückstreuung, Röntgen-Zweikristall-Diffraktometrie und Transmissions-Elektronenmikroskopie:
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Bibliographic Details
Main Author: Köster, Siegfried (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: 1982
Subjects:
Item Description:Auch als: Berichte der Kernforschungsanlage Jülich ; 1799
Physical Description:162 S. graph. Darst.

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