Proceedings of the international symposium: Brookhaven, NY, August 31 - September 4, 1987
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium X-Ray Microscopy Brookhaven, NY (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sayre, David (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin <<[u.a.]>> Springer 1988
Schriftenreihe:X-ray microscopy 2
Springer series in optical sciences 56
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 454 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3540193928
0387193928

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!