Stöchiometrie- und Schichtsdickenuntersuchungen an PVD-abgeschiedenen Al 2 O 3 - und Ta 2 O 5 -Dünnfilmen mit optischen Methoden:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Beck, Uwe (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1990
Schlagworte:
Beschreibung:133, 6 Bl. Ill., graph. Darst.

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