Mixed level test generation for synchronous sequential circuits using the FOGBUSTER algorithm:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Gläser, Uwe (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Sankt Augustin GMD 1994
Schriftenreihe:Arbeitspapiere der GMD 869
Beschreibung:22 S. graph. Darst.
ISSN:0723-0508

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