Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS:
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
Berlin
Akademie-Verl.
1986
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 294 S. |
| ISBN: | 3055000595 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV025935524 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 100417s1986 |||| 00||| und d | ||
| 020 | |a 3055000595 |9 3-05-500059-5 | ||
| 035 | |a (OCoLC)916788134 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV025935524 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-11 | ||
| 100 | 1 | |a Grasserbauer, Manfred |d 1945- |e Verfasser |0 (DE-588)136012523 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |c Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| 264 | 1 | |a Berlin |b Akademie-Verl. |c 1986 | |
| 300 | |a 294 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Analyse |0 (DE-588)4122795-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Spektroskopie |0 (DE-588)4056138-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberflächenanalyse |0 (DE-588)4172243-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Methode |0 (DE-588)4038971-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Auger-Spektroskopie |0 (DE-588)4122843-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Röntgen-Photoelektronenspektroskopie |0 (DE-588)4076787-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Analytische Chemie |0 (DE-588)4129906-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Festkörperoberfläche |0 (DE-588)4127823-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Analytische Chemie |0 (DE-588)4129906-1 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Spektroskopie |0 (DE-588)4056138-0 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Röntgen-Photoelektronenspektroskopie |0 (DE-588)4076787-5 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Festkörperoberfläche |0 (DE-588)4127823-9 |D s |
| 689 | 3 | 1 | |a Analyse |0 (DE-588)4122795-5 |D s |
| 689 | 3 | 2 | |a Methode |0 (DE-588)4038971-6 |D s |
| 689 | 3 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 689 | 4 | 0 | |a Oberflächenanalyse |0 (DE-588)4172243-7 |D s |
| 689 | 4 | 1 | |a Auger-Spektroskopie |0 (DE-588)4122843-1 |D s |
| 689 | 4 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 689 | 5 | 0 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |D s |
| 689 | 5 | 1 | |a Oberflächenanalyse |0 (DE-588)4172243-7 |D s |
| 689 | 5 | |8 3\p |5 DE-604 | |
| 700 | 1 | |a Dudek, Hans J. |d 1938- |e Verfasser |0 (DE-588)120161974 |4 aut | |
| 700 | 1 | |a Ebel, Maria F. |e Verfasser |0 (DE-588)13593771X |4 aut | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019179814 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 3\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804141397935128576 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Grasserbauer, Manfred 1945- Dudek, Hans J. 1938- Ebel, Maria F. |
| author_GND | (DE-588)136012523 (DE-588)120161974 (DE-588)13593771X |
| author_facet | Grasserbauer, Manfred 1945- Dudek, Hans J. 1938- Ebel, Maria F. |
| author_role | aut aut aut |
| author_sort | Grasserbauer, Manfred 1945- |
| author_variant | m g mg h j d hj hjd m f e mf mfe |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV025935524 |
| ctrlnum | (OCoLC)916788134 (DE-599)BVBBV025935524 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02546nam a2200613 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV025935524</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">100417s1986 |||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3055000595</subfield><subfield code="9">3-05-500059-5</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)916788134</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV025935524</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Grasserbauer, Manfred</subfield><subfield code="d">1945-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)136012523</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS</subfield><subfield code="c">Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">Akademie-Verl.</subfield><subfield code="c">1986</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">294 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Analyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122795-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4056138-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172243-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Methode</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038971-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Auger-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122843-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Röntgen-Photoelektronenspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4076787-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Analytische Chemie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129906-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Festkörperoberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4127823-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Analytische Chemie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129906-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4056138-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Röntgen-Photoelektronenspektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4076787-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Festkörperoberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4127823-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">Analyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122795-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="2"><subfield code="a">Methode</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038971-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="0"><subfield code="a">Oberflächenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172243-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="1"><subfield code="a">Auger-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122843-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2="0"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2="1"><subfield code="a">Oberflächenanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172243-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Dudek, Hans J.</subfield><subfield code="d">1938-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)120161974</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Ebel, Maria F.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)13593771X</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019179814</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV025935524 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T22:15:14Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3055000595 |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019179814 |
| oclc_num | 916788134 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-11 |
| owner_facet | DE-11 |
| physical | 294 S. |
| publishDate | 1986 |
| publishDateSearch | 1986 |
| publishDateSort | 1986 |
| publisher | Akademie-Verl. |
| record_format | marc |
| spelling | Grasserbauer, Manfred 1945- Verfasser (DE-588)136012523 aut Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel Berlin Akademie-Verl. 1986 294 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Analyse (DE-588)4122795-5 gnd rswk-swf Spektroskopie (DE-588)4056138-0 gnd rswk-swf Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 gnd rswk-swf Methode (DE-588)4038971-6 gnd rswk-swf Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd rswk-swf Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 gnd rswk-swf Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 gnd rswk-swf Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd rswk-swf Festkörperoberfläche (DE-588)4127823-9 gnd rswk-swf Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 s DE-604 Spektroskopie (DE-588)4056138-0 s Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 s Festkörperoberfläche (DE-588)4127823-9 s Analyse (DE-588)4122795-5 s Methode (DE-588)4038971-6 s 1\p DE-604 Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 s Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 s 2\p DE-604 Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 s 3\p DE-604 Dudek, Hans J. 1938- Verfasser (DE-588)120161974 aut Ebel, Maria F. Verfasser (DE-588)13593771X aut 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Grasserbauer, Manfred 1945- Dudek, Hans J. 1938- Ebel, Maria F. Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Analyse (DE-588)4122795-5 gnd Spektroskopie (DE-588)4056138-0 gnd Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 gnd Methode (DE-588)4038971-6 gnd Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 gnd Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd Festkörperoberfläche (DE-588)4127823-9 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4122795-5 (DE-588)4056138-0 (DE-588)4172243-7 (DE-588)4038971-6 (DE-588)4122843-1 (DE-588)4076787-5 (DE-588)4129906-1 (DE-588)4077346-2 (DE-588)4127823-9 |
| title | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |
| title_auth | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |
| title_exact_search | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |
| title_full | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| title_fullStr | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| title_full_unstemmed | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS Manfred Grasserbauer ; Hans Joachim Dudek ; Maria F. Ebel |
| title_short | Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS |
| title_sort | angewandte oberflachenanalyse mit sims aes und xps |
| topic | Analyse (DE-588)4122795-5 gnd Spektroskopie (DE-588)4056138-0 gnd Oberflächenanalyse (DE-588)4172243-7 gnd Methode (DE-588)4038971-6 gnd Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (DE-588)4076787-5 gnd Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd Festkörperoberfläche (DE-588)4127823-9 gnd |
| topic_facet | Analyse Spektroskopie Oberflächenanalyse Methode Auger-Spektroskopie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Analytische Chemie Sekundärionen-Massenspektrometrie Festkörperoberfläche |
| work_keys_str_mv | AT grasserbauermanfred angewandteoberflachenanalysemitsimsaesundxps AT dudekhansj angewandteoberflachenanalysemitsimsaesundxps AT ebelmariaf angewandteoberflachenanalysemitsimsaesundxps |