Fundamentals of surface and thin film analysis:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Feldman, Leonard C. (VerfasserIn), Mayer, James W. 1930-2013 (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] North-Holl. 1986
Schlagworte:
Beschreibung:XVIII, 352 S.
ISBN:0444009892

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