Critical phenomena at surfaces and interfaces: evanescent x-ray and neutron scattering
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Dosch, Helmut (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 1992
Schriftenreihe:Springer tracts in modern physics 126
Schlagworte:
Beschreibung:X, 145 S Ill.
ISBN:3540545344
0387545344

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