Verfügbarkeit: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS:

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Grasserbauer, Manfred 1945- (VerfasserIn), Dudek, Hans-Joachim (VerfasserIn), Ebel, Maria F. (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Berlin Akad.-Verl. 1986
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