EPR-Defektzentren in Si-SiO 2 -Phasengrenzschichten: 1
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nguyen Van Tri (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Beschreibung:117 Bl. graph. Darst.

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