Betrachtungen zur Entwicklung eines praxisgerechten In-Circuit-Testers für die Prüfung bestückter Leiterplatten analoger Funktion unter besonderer Berücksichtigung prüftechnologischer Aspekte: 1 Hauptbd.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Koglin, Uwe (VerfasserIn), Rehberg, Reinhard (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1989
Schlagworte:
Beschreibung:253 Bl. Ill.

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