Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Kalinin, Sergěj (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer
Schlagworte:
ISBN:0387286675
9780387286679

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