Automatisierung von Regressionstests eines Programms zur Halbleiter-Strukturanalyse:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Hanisch, Jens (VerfasserIn), Letzel, Johann (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2002
Schlagworte:
Beschreibung:Betreuer: Prof. Bothe
Beschreibung:X, 337 S. Ill., graph. Darst.

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