Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin
2001
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 81 S. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV025277367 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 100417s2001 ad|| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)917097304 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV025277367 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-11 | ||
| 100 | 1 | |a Schaffarzik, Dennis |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken |c von Dennis Schaffarzik |
| 264 | 1 | |a Berlin |c 2001 | |
| 300 | |a 81 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Berlin, Humboldt-Univ., Dipl.-Arb., 2001 | ||
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019911999 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804142342593052672 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Schaffarzik, Dennis |
| author_facet | Schaffarzik, Dennis |
| author_role | aut |
| author_sort | Schaffarzik, Dennis |
| author_variant | d s ds |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV025277367 |
| ctrlnum | (OCoLC)917097304 (DE-599)BVBBV025277367 |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00871nam a2200265 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV025277367</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">100417s2001 ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)917097304</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV025277367</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schaffarzik, Dennis</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken</subfield><subfield code="c">von Dennis Schaffarzik</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="c">2001</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">81 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Berlin, Humboldt-Univ., Dipl.-Arb., 2001</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019911999</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV025277367 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T22:30:15Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019911999 |
| oclc_num | 917097304 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-11 |
| owner_facet | DE-11 |
| physical | 81 S. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 2001 |
| publishDateSearch | 2001 |
| publishDateSort | 2001 |
| record_format | marc |
| spelling | Schaffarzik, Dennis Verfasser aut Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken von Dennis Schaffarzik Berlin 2001 81 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Berlin, Humboldt-Univ., Dipl.-Arb., 2001 (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| spellingShingle | Schaffarzik, Dennis Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken |
| subject_GND | (DE-588)4113937-9 |
| title | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken |
| title_auth | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken |
| title_exact_search | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken |
| title_full | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken von Dennis Schaffarzik |
| title_fullStr | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken von Dennis Schaffarzik |
| title_full_unstemmed | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken von Dennis Schaffarzik |
| title_short | Charakterisierung strukturierter Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer Abbildungstechniken |
| title_sort | charakterisierung strukturierter oberflachen mittels rasterkraftmikroskopie und elektronenmikroskopischer abbildungstechniken |
| topic_facet | Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT schaffarzikdennis charakterisierungstrukturierteroberflachenmittelsrasterkraftmikroskopieundelektronenmikroskopischerabbildungstechniken |