Strahlenschädigung in MOS-Varaktoren bei tiefen Temperaturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Radtke, Randolf E. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin Hahn-Meitner-Inst. 1993
Schriftenreihe:HMI-Berichte 512
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Berlin, TU, Diss., 1993
Beschreibung:110 S. Ill.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!