Strukturelle und elektrische Eigenschaften polykristalliner Siliciumdünnfilme:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Podbielski, Rainer (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1986
Schriftenreihe:Fortschrittberichte VDI : R. 9, Elektronik 62
Schlagworte:
Beschreibung:175 S. Ill.
ISBN:3181462098

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