Die Anwendung der protoneninduzierten Röntgenemission in Verbindung mit der Rutherford-Rückstreuung zur Oberflächenanalyse von Halbleiterkristallen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kreysch, Günter (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Berlin
Schlagworte:

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