X-ray spectrometry in electron beam instruments:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Williams, David B. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Plenum 1995
Schlagworte:
Beschreibung:XVIII, 372 S.
ISBN:0306448580
9781461357384

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!