Pietsch, U. (1988). Röntgenographische Untersuchungen zum Zusammenhang von Valenzeletronendichte und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen.
Chicago Style (17th ed.) CitationPietsch, Ullrich. Röntgenographische Untersuchungen Zum Zusammenhang Von Valenzeletronendichte Und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen. 1988.
MLA (9th ed.) CitationPietsch, Ullrich. Röntgenographische Untersuchungen Zum Zusammenhang Von Valenzeletronendichte Und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen. 1988.
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