Röntgenographische Untersuchungen zum Zusammenhang von Valenzeletronendichte und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pietsch, Ullrich (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1988
Schlagworte:
Beschreibung:144 Bl. Ill.

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