Pietsch, U. (1988). Röntgenographische Untersuchungen zum Zusammenhang von Valenzeletronendichte und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Pietsch, Ullrich. Röntgenographische Untersuchungen Zum Zusammenhang Von Valenzeletronendichte Und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen. 1988.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Pietsch, Ullrich. Röntgenographische Untersuchungen Zum Zusammenhang Von Valenzeletronendichte Und Gitterdeformationen in Halbleiterkristallen. 1988.
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