Untersuchung der Kontakteigenschaften implantierter Strukturen in Silizium und A III - B V -Halbleitern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Morawetz, Herbert (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1976
Schlagworte:
Beschreibung:135, V Bl. Ill.

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