Röntgendiffraktometrische Realstrukturuntersuchungen zu Punkt- und Mikrodefekten in GaAs:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Mücklich, Frank 1959- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1987
Schlagworte:
Beschreibung:96 Bl. Ill.

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