Beiträge zur Untersuchung von Defekterzeugungs- und Ausheilprozessen in ionenimplantiertem GaAs und anderen A III B v -Halbleitern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wesch, Werner (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1988
Schlagworte:
Beschreibung:146 Bl. Ill., graph. Darst.

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