Anwendung der Röntgen-Langwellenspektroskopie zur Untersuchungen der Elektronenstruktur amorpher siliziumhaltiger Verbindungen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hietschold, Volker (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1985
Schlagworte:
Beschreibung:123 Bl. Ill.

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