Kapazitätsmessung an Silizium-MIS-Strukturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Fechner, Siegfried (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1983
Schlagworte:
Beschreibung:120, 22, 5 Bl. Ill.

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