Beiträge zur Anwendung der Ellipsometrie für die Untersuchung von dünnen oxidischen Deckschichten auf Eisen und Stahl in Modellatmosphären:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Eichhorn, Klaus-Jochen (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1985
Schlagworte:
Beschreibung:144 Bl. Ill.

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