Streuwinkelabhängige Elektronenenergieverlustmessungen an dünnen polykristallinen ZnS-, ZnSe- und CdS-Schichten zur experimentellen Bestimmung ausgewählter elektronischer Eigenschaften dieser II-VI-Verbindungen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Blum, Ralf-Peter (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1986
Schlagworte:
Beschreibung:145 Bl. Ill.

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