Spiegelelektronenmikroskopische Bestimmung von Feldverteilungen an Oberflächen unter Ausnutzung von Regularisierungsverfahren:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Barthel, Jochen (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1984
Schlagworte:
Beschreibung:Dresden, Techn. Univ., Diss. A, 1984
Beschreibung:155 Bl. Ill.

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