Untersuchungen elektronischer Zustände an Korngrenzen in Silizium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Werner, Jürgen Heinz (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Mikrofilm Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1983
Schlagworte:
Beschreibung:Mikrofiche-Ausg.
Beschreibung:216 S. Ill., graph. Darst.

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