Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme: ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1996
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 3, 97 S., Anh. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV024822069 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 100417s1996 d||| m||| 00||| ger d | ||
| 035 | |a (OCoLC)258462850 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV024822069 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-11 | ||
| 084 | |a ZN 4030 |0 (DE-625)157339: |2 rvk | ||
| 100 | 1 | |a Liu, Ji-Gou |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme |b ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme |c von Ji-Gou Liu |
| 264 | 1 | |c 1996 | |
| 300 | |a 3, 97 S., Anh. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Dresden, Techn. Univ., Fak. für Elektrotechnik, Diss., 1996 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Analogschaltung |0 (DE-588)4122796-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Testbarkeit |0 (DE-588)4271826-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Analogschaltung |0 (DE-588)4122796-7 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Testbarkeit |0 (DE-588)4271826-0 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019500841 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804141816394547200 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Liu, Ji-Gou |
| author_facet | Liu, Ji-Gou |
| author_role | aut |
| author_sort | Liu, Ji-Gou |
| author_variant | j g l jgl |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV024822069 |
| classification_rvk | ZN 4030 |
| ctrlnum | (OCoLC)258462850 (DE-599)BVBBV024822069 |
| discipline | Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01160nam a2200337 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV024822069</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">100417s1996 d||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)258462850</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024822069</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Liu, Ji-Gou</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme</subfield><subfield code="b">ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme</subfield><subfield code="c">von Ji-Gou Liu</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1996</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3, 97 S., Anh.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Dresden, Techn. Univ., Fak. für Elektrotechnik, Diss., 1996</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Analogschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122796-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testbarkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4271826-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Analogschaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122796-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Testbarkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4271826-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019500841</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV024822069 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T22:21:53Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-019500841 |
| oclc_num | 258462850 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-11 |
| owner_facet | DE-11 |
| physical | 3, 97 S., Anh. graph. Darst. |
| publishDate | 1996 |
| publishDateSearch | 1996 |
| publishDateSort | 1996 |
| record_format | marc |
| spelling | Liu, Ji-Gou Verfasser aut Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme von Ji-Gou Liu 1996 3, 97 S., Anh. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Dresden, Techn. Univ., Fak. für Elektrotechnik, Diss., 1996 Analogschaltung (DE-588)4122796-7 gnd rswk-swf Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Analogschaltung (DE-588)4122796-7 s Testbarkeit (DE-588)4271826-0 s DE-604 |
| spellingShingle | Liu, Ji-Gou Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme Analogschaltung (DE-588)4122796-7 gnd Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4122796-7 (DE-588)4271826-0 (DE-588)4113937-9 |
| title | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme |
| title_auth | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme |
| title_exact_search | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme |
| title_full | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme von Ji-Gou Liu |
| title_fullStr | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme von Ji-Gou Liu |
| title_full_unstemmed | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme von Ji-Gou Liu |
| title_short | Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme |
| title_sort | testbarkeitsanalyse analoger schaltungen und systeme ein beitrag zur meß und pruftechnik elektronischer systeme |
| title_sub | ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme |
| topic | Analogschaltung (DE-588)4122796-7 gnd Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd |
| topic_facet | Analogschaltung Testbarkeit Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT liujigou testbarkeitsanalyseanalogerschaltungenundsystemeeinbeitragzurmeßundpruftechnikelektronischersysteme |