Hochauflösende Elektronenspektroskopie an Si-, Ge- und GaAs-Oberflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Froitzheim, H. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Jülich Kernforschungsanlage, Institut für Grenzflächenforschung und Vakuumphysik 1975
Schriftenreihe:Berichte der Kernforschungsanlage Jülich
Schlagworte:
Beschreibung:57 S. Ill.

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