Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Chowanetz, Michael (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Erlangen-Nürnberg 1993
Schlagworte:
Beschreibung:194 S. Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!