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Wilke, W. W. G. (1989). Untersuchung von Grenzflächen zwischen III-V- und II-VI-Halbleitern [Halbleitern] mittels Photoemission.

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Wilke, Werner W. G. Untersuchung Von Grenzflächen Zwischen III-V- Und II-VI-Halbleitern [Halbleitern] Mittels Photoemission. Berlin, 1989.

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Wilke, Werner W. G. Untersuchung Von Grenzflächen Zwischen III-V- Und II-VI-Halbleitern [Halbleitern] Mittels Photoemission. 1989.