Untersuchung von Grenzflächen zwischen III-V- und II-VI-Halbleitern [Halbleitern] mittels Photoemission:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wilke, Werner W. G. (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Mikrofilm Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Berlin 1989
Schlagworte:
Beschreibung:Mikroreprod. e. Ms. 172 Bl. : Ill., graph. Darst.
Beschreibung:2 Mikrofiches 24x

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