Untersuchungen zur Temperaturabhängigkeit der Defektdichte im amorphen Silicium:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kirbs, Volker-Uwe (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Magdeburg 1992
Schlagworte:
Beschreibung:[10], 72 S. graph. Darst.

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