Practical Scanning Electron Microscopy: electron and ion microprobe analysis
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Goldstein, Joseph I. (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: New York Plenum Pr. 1975
Schlagworte:
Beschreibung:XVIII, 582 S.
ISBN:0306308207

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!