Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen:
Gespeichert in:
Weitere Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Sindelfingen
Expert-Verl.
1985
|
Schriftenreihe: | Kontakt & Studium
162 : Elektronik |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | XIII, 203 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 3816900267 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV024630184 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20190920 | ||
007 | t | ||
008 | 090924s1985 ad|| |||| 00||| ger d | ||
020 | |a 3816900267 |9 3-8169-0026-7 | ||
035 | |a (OCoLC)74688528 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV024630184 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-83 | ||
084 | |a ZN 4030 |0 (DE-625)157339: |2 rvk | ||
084 | |a ZN 4100 |0 (DE-625)157351: |2 rvk | ||
245 | 1 | 0 | |a Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen |c R. Eckert ... |
264 | 1 | |a Sindelfingen |b Expert-Verl. |c 1985 | |
300 | |a XIII, 203 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Kontakt & Studium |v 162 : Elektronik | |
650 | 0 | 7 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Halbleitertechnologie |0 (DE-588)4158814-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
689 | 0 | 0 | |a Halbleitertechnologie |0 (DE-588)4158814-9 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
700 | 1 | |a Eckert, Richard |4 ctb | |
830 | 0 | |a Kontakt & Studium |v 162 : Elektronik |w (DE-604)BV023552136 |9 162 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018042646 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804140045244825600 |
---|---|
any_adam_object | |
author2 | Eckert, Richard |
author2_role | ctb |
author2_variant | r e re |
author_facet | Eckert, Richard |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV024630184 |
classification_rvk | ZN 4030 ZN 4100 |
ctrlnum | (OCoLC)74688528 (DE-599)BVBBV024630184 |
discipline | Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01196nam a2200361 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV024630184</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20190920 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">090924s1985 ad|| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3816900267</subfield><subfield code="9">3-8169-0026-7</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)74688528</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV024630184</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4100</subfield><subfield code="0">(DE-625)157351:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen</subfield><subfield code="c">R. Eckert ...</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Sindelfingen</subfield><subfield code="b">Expert-Verl.</subfield><subfield code="c">1985</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XIII, 203 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Kontakt & Studium</subfield><subfield code="v">162 : Elektronik</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleitertechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158814-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleitertechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158814-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Eckert, Richard</subfield><subfield code="4">ctb</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Kontakt & Studium</subfield><subfield code="v">162 : Elektronik</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV023552136</subfield><subfield code="9">162</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018042646</subfield></datafield></record></collection> |
id | DE-604.BV024630184 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T21:53:44Z |
institution | BVB |
isbn | 3816900267 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018042646 |
oclc_num | 74688528 |
open_access_boolean | |
owner | DE-83 |
owner_facet | DE-83 |
physical | XIII, 203 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 1985 |
publishDateSearch | 1985 |
publishDateSort | 1985 |
publisher | Expert-Verl. |
record_format | marc |
series | Kontakt & Studium |
series2 | Kontakt & Studium |
spelling | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen R. Eckert ... Sindelfingen Expert-Verl. 1985 XIII, 203 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Kontakt & Studium 162 : Elektronik Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd rswk-swf Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 gnd rswk-swf Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 s Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 s DE-604 Eckert, Richard ctb Kontakt & Studium 162 : Elektronik (DE-604)BV023552136 162 |
spellingShingle | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen Kontakt & Studium Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 gnd |
subject_GND | (DE-588)4016608-9 (DE-588)4158814-9 |
title | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen |
title_auth | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen |
title_exact_search | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen |
title_full | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen R. Eckert ... |
title_fullStr | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen R. Eckert ... |
title_full_unstemmed | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen R. Eckert ... |
title_short | Fehleranalyse an Halbleiterbauteilen |
title_sort | fehleranalyse an halbleiterbauteilen |
topic | Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 gnd |
topic_facet | Fehleranalyse Halbleitertechnologie |
volume_link | (DE-604)BV023552136 |
work_keys_str_mv | AT eckertrichard fehleranalyseanhalbleiterbauteilen |