Simulation und experimentelle Verifikation von strukturgrößen- und flächenbelegungsabhängigen Effekten bei chemisch mechanischen Polieren in der Halbleitertechnologie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Meyer, Frank Christian (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 2004
Schlagworte:
Beschreibung:155 S. Ill., graph. Darst.

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