Gensch, M. (2005). Infrared ellipsometry for the investigation of interfacial layers and thin organic films on silicon. Mensch-&-Buch-Verl.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Gensch, Michael. Infrared Ellipsometry for the Investigation of Interfacial Layers and Thin Organic Films on Silicon. Berlin: Mensch-&-Buch-Verl, 2005.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Gensch, Michael. Infrared Ellipsometry for the Investigation of Interfacial Layers and Thin Organic Films on Silicon. Mensch-&-Buch-Verl, 2005.
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