Model based control of atomic force microscopes:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schitter, Georg (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Mikrofilm Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 2004
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:XVI, 112 Bl. Ill., graph. Darst.

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