Analyse der Defektursachen und der Genauigkeit der Strukturübertragung bei der Röntgentiefenlithographie mit Synchrotronstrahlung:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Mohr, Jürgen (VerfasserIn), Ehrfeld, Wolfgang 1938- (VerfasserIn), Münchmeyer, Dietrich (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Karlsruhe Kernforschungszentrum 1988
Ausgabe:Als Ms. vervielfältigt
Schlagworte:
Beschreibung:96 S. Ill., graph. Darst.

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