Rasternahfeldmikroskopie an einzelnen In 0,4 Ga 0,6 As/GaAs-Quantenpunkten:
Gespeichert in:
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|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin
Wiss. und Technik Verl.
2002
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| Ausgabe: | 1. Aufl. |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | IX,149 S. Ill., graph. Darst. |
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