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Proceedings: 25 - 29 May 2002, Anchorage, Alaska

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Bibliographische Detailangaben
Format:	Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Los Alamitos, Calif. <<[u.a.]>> IEEE Computer Soc. 2002
Schlagworte:	Computerunterstütztes Verfahren Prüftechnik Testen Mustererkennung Medizin Mikroelektronik Datenverarbeitungssystem Elektronik VLSI Bildverstehen Computersimulation Integrierte Schaltung Maschinelles Sehen Telekommunikation Entwurf Konferenzschrift
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